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peritec電磁干擾測(cè)試儀 噪聲分析儀EMV-100 EMV-200的介紹Peritec 的 EMI 測(cè)試儀可高精度自動(dòng)測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的電場(chǎng)和磁場(chǎng)的噪聲分布。高精度的可動(dòng)工作臺(tái)，即使PCB、IC等具有復(fù)雜的凹凸形狀，也能自動(dòng)追蹤其形狀，并進(jìn)行高靈敏度的測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)各種 3D 圖形可視化
產(chǎn)品型號(hào)：EMV-100 EMV-200廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2023-04-21訪(fǎng) 問(wèn) 量：614
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peritec電磁干擾測(cè)試儀 噪聲分析儀EMV-100 EMV-200的介紹
peritec電磁干擾測(cè)試儀 噪聲分析儀EMV-100 EMV-200的介紹
自動(dòng)拐杖尖機(jī)構(gòu)
即使被測(cè)物體具有復(fù)雜的不平度，磁場(chǎng)探頭也能通過(guò)自動(dòng)追蹤功能自動(dòng)追蹤近距離，實(shí)現(xiàn)高靈敏度和高分辨率的測(cè)量。
■ 圖形顯示
測(cè)量數(shù)據(jù)以各種3D 圖形可視化。
Peritec 的 EMI 測(cè)試儀可高精度自動(dòng)測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的電場(chǎng)和磁場(chǎng)的噪聲分布。
高精度的可動(dòng)工作臺(tái)，即使PCB、IC等具有復(fù)雜的凹凸形狀，也能自動(dòng)追蹤其形狀，并進(jìn)行高靈敏度的測(cè)量。
測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)各種 3D 圖形可視化測(cè)量數(shù)據(jù)以各種3D 圖形可視化。
| 物品 | EMV-100 | EMV-150 | EMV-200 | ||
| 活動(dòng) 桌 | 工作 范圍 | X/Y軸 | 170mm | 370mm | 300mm |
| Z軸 | 100mm | 230mm | |||
| θ軸 | -100 至 +230° 度。 | ±360°度。 | |||
| 定位 精度 | X/Y軸 | ±0.05mm | |||
| Z軸 | ±0.05mm | ||||
| θ軸 | ±1°度。 | ||||
| 外形尺寸（寬×深×高） | 387×405×735mm | 617×605×735mm | 565×680×1003mm | ||
| 重量 | 20公斤 | 40公斤 | 97公斤 | ||
| 集成控制 控制器 | 控制電腦 | Microsoft Windows 7 （與 Microsoft Windows 10 兼容） | |||
| 軟件 | 控制程序EMVm5 | 控制程序EMVL5 | 控制程序EMV5 | ||
| 軟件 選項(xiàng) | 應(yīng)用程序接口 | ||||
| 電源 | 交流電源輸入 | 交流電 100-230V，50Hz/60Hz | |||
| 能量消耗 | 最大 0.5 kVA | 最大 1.0 kVA | |||
| 選項(xiàng) | 測(cè)量?jī)x器 | 頻譜分析儀（各公司） | |||
| 天線(xiàn) | 電場(chǎng)天線(xiàn) W07E 磁場(chǎng)天線(xiàn) W07 其他 | ||||
| 前置放大器 | 100MHz 至 6GHz，NF=2.5dB，GAIN=36dB 等 | ||||
| 屏蔽盒 | 根據(jù)測(cè)試儀型號(hào)有專(zhuān)用的屏蔽盒。 | ||||
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2024-04-22
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